SPP Teclorogy

PECVD

PECVD

SPT的PECVD系统专为先进MEMS与半导体应用中的厚氧化层与低应力硅氮化物沉积而设计。

Cetus, Capella

SPT的等离子体增强化学气相沉积(PECVD)系统可沉积高质量的硅氧化物与硅氮化物薄膜,具备低应力、优异的均匀性与可靠的覆盖能力。 适用于MEMS、光学镀膜与各种厚度的钝化膜沉积。

应用领域:

  • MEMS器件
  • 喷墨打印头
  • 硅通孔(TSV)
  • 功率器件
  • LED器件
  • 光学器件
  • 射频器件(RF)

功能特性

为何选择SPT高精度PECVD系统

高速无裂纹氧化膜沉积

适用于MEMS与光波导应用的厚SiO₂膜沉积,确保无裂纹、无空隙。

优异的TSV结构覆盖能力

在窄且高深宽比TSV结构上沉积低温氧化膜,实现高一致性。

高质量低氢硅氮化物

适用于化合物半导体钝化,提供高密度、低氢含量的SiN膜。

适用于MEMS膜结构的低应力SiN

形成高均匀性、超低应力的硅氮化物薄膜,可适用于MEMS膜应用。

支持从研发到量产的可扩展平台

可提供真空LoadLock与集群式平台,满足多种产能需求。

性能表现

从厚氧化膜到低应力SiN——实现关键工艺目标

SPT的PECVD系统可实现MEMS与TSV结构所需的厚氧化膜、低应力SiN与一致性薄膜。
以稳定可靠的工艺控制,实现真正重要的性能结果。

TSV结构无空洞氧化填充

厚SiO₂膜沉积

低应力SiN沉积
(剑桥大学提供数据)

铝互连结构上等离子体SiO₂一致性覆盖

技术规格

灵活的PECVD系统架构:满足多样化器件与工艺需求

SPT的PECVD系统提供多种配置选项,满足不同膜厚、材料与器件的应用要求。 适用于研发与量产,支持多种应用中稳定的氧化物与氮化物沉积。

工艺模组

  • Cetus

  • Capella

  • 晶圆尺寸(mm)

  • 200

  • 200

  • 搬送系统

  • APX, DPX, VPX, CPX

  • APX, DPX, VPX, CPX

  • 工艺温度

  • Moderate

  • ≤100°C

  • 沉积材料

  • SiO2, SiN, SiON, SiC

  • SiO2, SiN

搬送系统

  • APX

  • DPX

  • VPX

  • CPX

  • 预期用途

  • R&D

  • Prototype

  • Small Volume

  • Mass Production

  • 腔体数量

  • 1

  • 2

  • 3

  • 4

  • 搬送Robot

  • Atmospheric

  • Vacuum

  • Vacuum

  • Robot运输方式

  • 2-Axis

  • 2-Axis

  • 3-Axis

  • 3-Axis

  • Casseete数量

  • 0

  • 2

  • 1

  • 2

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